010-87681080
010-87681080
產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心實驗檢測儀器粗糙度測量儀
相關(guān)文章
管材內(nèi)部非接觸式光學(xué)掃描儀 粗糙度測量一種通過彩色激光光源發(fā)射出一束高密度寬光譜光，通過色散鏡頭后，在量程范圍內(nèi)形成不同波長的單色光，每個波長對應(yīng)一個距離值。測量光射到物體表面反射回來，只有滿足共聚焦條件的光，可以通過小孔被光譜儀感測到。通過計算被感測到光的焦點的波長，換算獲得距離值。它被廣泛應(yīng)用在各種不同的精密產(chǎn)業(yè)中如油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，
產(chǎn)品型號：PZ-30LS
瀏覽量：100
非接觸式檢測粗糙度儀 售后無憂采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用共聚焦顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。
產(chǎn)品型號：PZ-30LS瀏覽量：904
非接觸表面粗糙度檢測儀 建立3D立體影像采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用共聚焦顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。
產(chǎn)品型號：PZ-30LS瀏覽量：910
非接觸式表面輪廓粗糙度測量儀是一種通過彩色激光光源發(fā)射出一束高密度寬光譜光，通過色散鏡頭后，在量程范圍內(nèi)形成不同波長的單色光，每個波長對應(yīng)一個距離值。測量光射到物體表面反射回來，只有滿足共聚焦條件的光，可以通過小孔被光譜儀感測到它被廣泛應(yīng)用在各種不同的精密產(chǎn)業(yè)中如油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導(dǎo)體
產(chǎn)品型號：PZ-30LS瀏覽量：1011
非接觸式粗糙度測試儀 PZ-30LS是一種通過彩色激光光源發(fā)射出一束高密度寬光譜光，通過色散鏡頭后，在量程范圍內(nèi)形成不同波長的單色光，每個波長對應(yīng)一個距離值。測量光射到物體表面反射回來，只有滿足共聚焦條件的光，可以通過小孔被光譜儀感測到它被廣泛應(yīng)用在各種不同的精密產(chǎn)業(yè)中如油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導(dǎo)體、
產(chǎn)品型號：瀏覽量：1129
非接觸粗糙度測量儀主要應(yīng)用于：油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導(dǎo)體、特種材料表面粗糙度測量等。
產(chǎn)品型號：PZ-30LS瀏覽量：2159
Copyright © 2026北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號：京ICP備19005501號-1
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)
管理登錄 sitemap.xml
產(chǎn)品分類